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上海標恒電子科技有限公司
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日本日置C測試儀3505/ 3506
- 儀器名稱:C測試儀
- 儀器品牌:日本日置
- 儀器型號:3505/ 3506
- 送貨時間:48小時內(nèi)
- 標準價格:不詳
- 本站售價:洽詢
- 關(guān)鍵參數(shù):對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ?反復測量精度更高,最適合生產(chǎn)線 ?校正維修功能,減低由環(huán)境的溫度變化影響 ?測量導線的過長引起的阻抗變化,阻抗補正功能 ?比測儀的設(shè)定值和測定值的同步顯示 ?2ms的高速測量;1kHz,1MHz 測量 ?根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量 ?比測儀和觸發(fā)器同步輸出功能 輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
性能參數(shù)介紹
軟件下載: 無
資料下載: 無
產(chǎn)品介紹
C測試儀 3505/ 3506
對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
?反復測量精度更高,最適合生產(chǎn)線
?校正維修功能,減低由環(huán)境的溫度變化影響
?測量導線的過長引起的阻抗變化,阻抗補正功能
?比測儀的設(shè)定值和測定值的同步顯示
?2ms的高速測量;1kHz,1MHz 測量
?根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
?比測儀和觸發(fā)器同步輸出功能
輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
基本參數(shù)
測量參數(shù) |
C(電容),D(損耗系數(shù)tanδ), Q (1/tan δ) |
測量范圍 |
C:0.000fF ~ 15.0000mF |
基本確度 |
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
測量頻率 |
3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz |
測量信號電平 |
500mV, 1V rms |
輸出電阻 |
1Ω (在2.2mF以上的測量范圍: 1kHz;在 22nF以上的測量范圍: 100kHzs), 20Ω 上述測量范圍以外) |
顯示 |
LED(6位顯示,滿量程由點數(shù)有效距離來決定) |
測量時間 |
代表值: 2.0 ms (FAST) |
機能 |
BIN 分選測量功能, 觸發(fā)同步測量, 設(shè)定測量條件保存功能, 比較器測量功能,平均機能, Low-C抵抗機能, 震動機能,電流檢測功能,輸入電壓檢測機能,EXT I/O輸入/輸出, RS |
電源 |
AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大40VA |
體積及重量 |
260W × 100H × 298Dmm, |
附件 |
電源線× 1, 電源備用保險絲× 1 |
電源標準
標準配置
標準配套
可選附件
標準證書